Método y aparato para la formación de imágenes fantasma computacional.

Un aparato de formación de imágenes fantasma computacional que comprende una primera fuente de radiación electromagnética (100) y un sistema de control configurado para provocar que la radiación electromagnética de dicha primera fuente sea aplicada a una pluralidad seleccionada de porciones tridimensionales (12) de un volumen atmosférico (10) ubicado entre una segunda fuente de radiación electromagnética (110) y un objeto o región de interés (106) con el fin de calentar o ionizar el aire dentro de dichas porciones seleccionadas y crear un modulador de radiación espacial atmosférica (108) de un patrón especificado para provocar que dicho objeto o región de interés sea irradiado con una segunda radiación electromagnética espacialmente modulada en dicho patrón especificado,

comprendiendo el aparato además un detector para recibir la segunda radiación electromagnética espacialmente modulada reflejada por dicho objeto o región de interés, y un módulo de procesamiento para reconstruir una imagen de dicho objeto o región de interés utilizando la salida de datos de dicho detector.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/GB2016/050873.

Solicitante: BAE SYSTEMS PLC.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: 6 CARLTON GARDENS LONDON SW1Y 5AD REINO UNIDO.

Inventor/es: COLOSIMO,NICHOLAS GIACOMO ROBERT.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01S17/88 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01S LOCALIZACION DE LA DIRECCION POR RADIO; RADIONAVEGACION; DETERMINACION DE LA DISTANCIA O DE LA VELOCIDAD MEDIANTE EL USO DE ONDAS DE RADIO; LOCALIZACION O DETECCION DE PRESENCIA MEDIANTE EL USO DE LA REFLEXION O RERRADIACION DE ONDAS DE RADIO; DISPOSICIONES ANALOGAS QUE UTILIZAN OTRAS ONDAS.G01S 17/00 Sistemas que utilizan la reflexión o rerradiación de ondas electromagnéticas que no sean ondas de radio, p. ej. sistemas lidar. › Sistemas de lidar, especialmente adaptados para aplicaciones específicas.
  • G01S17/89 G01S 17/00 […] › para la cartografía o la formación de imágenes.
  • G01S7/481 G01S […] › G01S 7/00 Detalles de sistemas según los grupos G01S 13/00, G01S 15/00, G01S 17/00. › Características constructivas, p. ej. disposiciones de elementos ópticos.

PDF original: ES-2748395_T3.pdf

 

Patentes similares o relacionadas:

Sistema y método de medición de coordenadas, del 15 de Julio de 2020, de NPL Management Limited: Un sistema de deteccion de posicion para detectar la posicion tridimensional de una pluralidad de objetivos , que incluye: una pluralidad de objetivos […]

Método de medición de una distancia, del 17 de Junio de 2020, de The Chugoku Electric Power Co., Inc: Un método de medición de una distancia que comprende: instalar un miembro de referencia en una superficie de un primer miembro metálico (P1), e instalar un miembro […]

LIDAR basado en SMEM, del 19 de Febrero de 2020, de Windar Photonics A/S: Un sistema LIDAR que comprende: - una sección generadora de haz adaptada para generar un haz de salida ; - una pluralidad de unidades ópticas de enfoque […]

Dispositivo electrónico a medida del casco para una embarcación, del 1 de Enero de 2020, de Consilium SAL Navigation AB: Una disposición para una embarcación marina, en la que la disposición comprende: un asiento que comprende un orificio de paso […]

Imagen de 'Cámara'Cámara, del 27 de Noviembre de 2019, de Nctech Ltd: Cámara panorámica que presenta un campo de visión global de 360° y configurada para capturar una imagen de 360° de una escena que se extiende alrededor […]

Dispositivo optoelectrónico, del 6 de Noviembre de 2019, de VISHAY SEMICONDUCTOR GMBH: Dispositivo sensor optoelectrónico con: al menos un emisor optoelectrónico y al menos un receptor optoelectrónico , un medio de almacenamiento […]

Aparato de detección de luz de alta velocidad, del 30 de Octubre de 2019, de Artilux Inc: Aparato óptico que comprende: un sustrato semiconductor de silicio [reivindicación 14]; una capa de germanio-silicio acoplada al sustrato semiconductor, […]

Unidad modular de irradiación láser, del 28 de Agosto de 2019, de MBDA Deutschland GmbH: Unidad de irradiación láser para irradiar un objeto objetivo con radiación láser de alta potencia , comprendiendo la unidad de irradiación […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .