Instalación de medición de la posición.
Instalación de medición de la posición con una escala (10) y una unidad de exploración (20) móvil con relación a ella en dirección de medición (x),
en la que
- la escala (10) presenta una división de medición (11) y a través de una exploración óptica de la división de medición (11) se pueden generar señales de medición periódicas,
- la escala (10) presenta al menos una marca de referencia (12) y a través de una exploración óptica de la marca de referencia (12) se puede generar una señal de referencia (REF),
- la escala (10) presenta marcas de la zona (13.1, 13.2) explorables ópticamente y a través de una exploración óptica de las marcas de la zona (13.1, 13.2) se puede generar con su haz de rayos de exploración y su detección a través de un detector de la señal de la zona (26) una señal de la zona (B), a través de la cual se puede distinguir si la unidad de exploración (20) se encuentra sobre el primero o el segundo lado de la marca de referencia (12), y
- las marcas de la zona (13.1, 13.2) sobre el primero y el segundo lado de la marca de referencia (12) ejercen diferentes acciones de desviación sobre el haz de rayos de exploración que inciden sobre ella, caracterizada porque entre la escala (10) y el detector de la señal de la zona (26) está dispuesta una rejilla de pantalla periódica (29), que está configurada y dispuesta de tal manera que durante la exploración óptica de las marcas de la zona (13.1, 1.2) en el plano de detección del detector de la señal de la zona (26) resulta un patrón de franjas, a partir del cual en función de la posición de la unidad de exploración (20) con relación a la marca de referencia (12) se pueden generar dos señales de exploración (S1, S2; S1', S2').
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14192766.
Solicitante: DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: Dr. Johannes-Heidenhain-Strasse, 5 83301 Traunreut ALEMANIA.
Inventor/es: HERMANN, MICHAEL, HOLZAPFEL, WOLFGANG, SCHOSER,JÜRGEN, HÖFER,VOLKER.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01D5/347 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 5/00 Medios mecánicos para la transferencia de la magnitud de salida de un elemento sensor; Medios para la conversión de la magnitud de salida de un elemento sensor en otra variable, en los que la forma o naturaleza del elemento sensor no determinan los medios de conversión; Transductores no especialmente adaptados a una variable específica (G01D 3/00 tiene prioridad; especialmente adaptados para aparatos que dan resultados distintos al valor instantáneo de una variable G01D 1/00). › que utilizan escalas de codificación de desplazamiento.
- G01D5/38 G01D 5/00 […] › mediante rejillas de difracción.
PDF original: ES-2592209_T3.pdf
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