CIP-2021 : G01R 31/26 : Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66;

pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).

CIP-2021GG01G01RG01R 31/00G01R 31/26[1] › Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66; pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).

G FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).

G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).

G01R 31/26 · Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66; pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Aparato y método de prueba de células solares.

(08/07/2020) Un aparato de prueba de células solares que comprende: un iluminador para dirigir la energía luminosa sobre una célula solar bajo prueba; y un dispositivo para colocar selectivamente diferentes filtros de una multiplicidad de filtros en una trayectoria óptica entre el iluminador y la célula solar bajo prueba para al menos uno de medir el rendimiento y detectar cualquier defecto en la célula solar, comprendiendo la multiplicidad de filtros que comprende un primer conjunto de filtros (216a), estando cada filtro del primer conjunto de filtros adaptado para pasar un porcentaje predeterminado de intensidad de la energía luminosa del iluminador a la célula solar bajo prueba,…

Procedimiento y dispositivo para encontrar puntos defectuosos en elementos constructivos semiconductores.

(09/05/2019) Procedimiento para encontrar puntos defectuosos en un elemento constructivo semiconductor con una unión pn, en particular en un elemento constructivo semiconductor de extensión plana, de manera especialmente preferible en una célula solar, que comprende las etapas, aplicar una tensión al elemento constructivo semiconductor por medio de una fuente de tensión ; registrar radiación electromagnética, que se envía por el elemento constructivo semiconductor , por medio de al menos un detector fotosensible ; evaluar la radiación electromagnética registrada; caracterizado por que la tensión se aplica al elemento constructivo semiconductor inicialmente de modo que la unión pn se hace funcionar…

Procedimiento para diagnosticar el fallo de un generador fotovoltaico.

(10/04/2019). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES. Inventor/es: LABRUNIE,Antoine, CHAINTREUIL,NICOLAS, BARRUEL,FRANCK.

Procedimiento de diagnóstico para un generador fotovoltaico caracterizado porque implementa una etapa de observación de la evolución de su tensión (U) en función del tiempo durante su paso de un modo de funcionamiento en cortocircuito a un modo de circuito abierto o viceversa, de un modo de funcionamiento en circuito abierto a un modo de cortocircuito.

PDF original: ES-2708572_T3.pdf

Detección de fuga de corriente a través de optointerruptores.

(05/04/2019) Aparato para probar un optointerruptor , que comprende: un primer reóstato de detección acoplado entre una fuente de potencia y una entrada lateral de corriente del optointerruptor ; un segundo reóstato de detección acoplado a una salida lateral de corriente del optointerruptor ; un circuito de prueba , que está acoplado para detectar una primera corriente que fluye a través del primer reóstato de detección y una segunda corriente que fluye a través del segundo reóstato de detección y para generar una señal de prueba en respuesta a una relación entre la primera y la segunda corriente; y un controlador…

Procedimiento y sistema de control de la calidad de un dispositivo fotovoltaico.

(20/03/2019). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES. Inventor/es: MABILLE,LOÏC.

Procedimiento de control de la calidad de un dispositivo fotovoltaico que comprende una célula fotovoltaica ensamblada con un substrato por mediación de una superficie de contacto de ensamblado, que comprende las etapas siguientes: • inyección (S0) de una corriente eléctrica (I1) a través de la célula fotovoltaica ; • adquisición (S1) de una señal (IM0) de medición de radiaciones luminosas emitidas por la célula fotovoltaica, por electroluminiscencia, en respuesta a la corriente inyectada; siendo la corriente de inyección (I1) una primera corriente con una densidad superior a un umbral de corriente predefinido de detección de defectos de ensamblado, y está prevista una etapa (S5) de detección de al menos un defecto en la superficie de contacto de ensamblado a partir de dicha señal de medición adquirida.

PDF original: ES-2735051_T3.pdf

Determinación de las concentraciones de dopantes aceptadores y donadores.

(14/03/2018) Procedimiento de determinación de concentraciones en dopantes en una muestra de material semiconductor, constando la muestra de tres dopantes (NAF, NAP, ND) de los que uno de tipo mayoritario y uno de tipo minoritario, teniendo dos dopantes de un mismo tipo unas energías de activación diferentes (EAF, EAP), comprendiendo el procedimiento las etapas siguientes: - medir (F1) la concentración (p0) en portadores de carga libres en la muestra a unas primera y segunda temperaturas para las que el dopante del tipo mayoritario (NAF) que tiene la energía de activación más reducida (EAF) está en un régimen de ionización; - confrontar (F2) las medidas de la concentración (p0) en portadores de carga libres con un modelo matemático de la concentración (p0) en portadores de carga libres…

Procedimiento de prueba de aislamiento para grandes instalaciones fotovoltaicas.

(29/11/2017). Solicitante/s: ADENSIS GMBH. Inventor/es: BECK,BERNHARD.

Procedimiento para verificar el aislamiento de una instalación fotovoltaica con respecto a tierra con ayuda de un impulso de prueba aplicado a las líneas de alimentación (6,6') de la instalación fotovoltaica, caracterizado por que la instalación fotovoltaico está subdividida estructuralmente en varias instalaciones parciales , aisladas eléctricamente entre sí, y el impulso de prueba se emite sucesivamente a la respectiva línea de alimentación (6,6') asociada a la instalación parcial.

PDF original: ES-2659889_T3.pdf

Dispositivo y sistema de tratamiento para la medición de la movilidad y la densidad de carga laminar en materiales laminares conductores.

(12/07/2017) Un dispositivo para la medición de la movilidad y la densidad de carga laminar en materiales laminares conductores que comprende: una fuente de microondas; un primer guiaondas situado para recibir potencia de microondas de dicha fuente de microondas; una montura ajustable adaptada para colocar de manera ajustable un elemento de material laminar en una pluralidad de emplazamientos de medición para recibir una potencia de microondas transmitida desde dicho primer guiaondas; un imán situado para inducir un campo magnético en el emplazamiento de ensayo; un primer detector para detectar la…

Procedimiento de diagnóstico de elementos defectuosos de un sistema autónomo, alimentado por una fuente de alimentación intermitente.

(11/01/2017) Procedimiento de diagnóstico de elementos defectuosos de un sistema autónomo, alimentado por una fuente de alimentación intermitente y que se compone en serie de un generador , un regulador de potencia y un elemento de almacenamiento de energía , regulador que consta de un convertidor dispuesto entre el generador y el elemento de almacenamiento de energía , el procedimiento consiste en - la medición de la corriente y de la tensión (Ubat) reales de carga, la determinación en función de dichas mediciones de la potencia real de carga (Pbat) del elemento de almacenamiento de energía , la comparación de dicha potencia real de carga con un umbral de potencia predefinido; …

MÉTODO PARA EL DIAGNÓSTICO DE FALLO EN INVERSORES SOLARES.

(10/11/2016). Solicitante/s: POWER ELECTRONICS ESPAÑA, S.L. Inventor/es: POVEDA LERMA,ANTONIO, SALVO LILLO,ABELARDO, SALVO LILLO,David.

Método para el diagnóstico de fallos en inversores solares que ante un evento de fuga de corriente DC, el inversor activa la protección correspondiente, interrumpiendo la producción de energía; y posteriormente activa una secuencia de maniobras de diagnóstico de fallos, configuradas para detectar la cadena de paneles que tiene la fuga; y donde dicha secuencia de maniobras comprende el descartar el fallo en la parte de corriente alterna (AC) abriéndola en primer lugar; donde si al abrir la parte de AC desaparece el fallo no se realiza un diagnóstico por canales; y donde en caso de no desaparecer el fallo, se procede a la apertura de los contactores de DC; a continuación se cierran y abren uno a uno comprobando la resistencia de aislamiento; y donde los canales que al cerrarse reporten fallo de aislamiento deben abrirse y permanecer abiertos hasta que se corrija el fallo.

PDF original: ES-2589148_B1.pdf

PDF original: ES-2589148_A1.pdf

Dispositivo de prueba de un módulo fotovoltaico de concentración.

(21/09/2016) Dispositivo para probar un módulo fotovoltaico de concentración que comprende al menos un conjunto de una célula fotovoltaica y un concentrador dispuesto de manera adecuada en relación a la célula a fin de concentrar hacia dicha célula una radiación que llega en incidencia normal, comprendiendo dicho dispositivo: • al menos una fuente luminosa ; • al menos un espejo parabólico acoplado a dicha fuente con el fin de reenviar la luz procedente de dicha fuente en un haz luminoso casi colimado hacia el módulo a probar, en una dirección perpendicular a la superficie de dicho módulo; y • un filtro de intensidad interpuesto en el trayecto del haz casi colimado antes…

Circuito de control electrónico que comprende transistores de potencia y procedimiento para supervisar la vida útil de los transistores de potencia.

(10/09/2014) Circuito de control electrónico para un dispositivo eléctrico, en particular diseñado como un sistema electrónico de comunicación de un motor conmutado electrónicamente (M), que tiene una pluralidad de transistores de potencia (T1 - T6), los cuales están controlados en un modo de funcionamiento para controlar el dispositivo, caracterizado por un transistor de referencia similar, adicional (Ttest) el cual no está cargado en el modo de funcionamiento de los transistores de potencia (T1 - T6) y está instalado o formado junto con los transistores de potencia (T1 - T6) en un soporte o sustrato común y por medio de la aplicación al transistor de referencia (Ttest) y a por lo menos uno de los transistores de…

Procedimiento para el análisis de sistemas fotovoltaicos de capas por medio de termografía.

(06/08/2014) Procedimiento para el análisis de evaluación de un sistema fotovoltaico de capas (S), con las siguientes etapas: generación de una corriente eléctrica en el sistema de capas ; generación de una imagen resuelta localmente de la radiación térmica de una superficie del sistema de capas ; determinación de una distribución de la intensidad de la radiación térmica, relacionada con el número respectivo de puntos de la imagen con el mismo valor de la intensidad; determinación de un valor medio/mediana de la intensidad a partir de la distribución de la intensidad; determinación de un intervalo de la intensidad que se basa en la distribución de la intensidad a través de la aplicación de una regla de cálculo predeterminable; determinación de un índice a través de la suma de productos, dados respectivamente por el número de puntos…

LABORATORIO PARA ENSAYOS A MÓDULOS FOTOVOLTAICOS.

(05/06/2014). Ver ilustración. Solicitante/s: ENERTIS SOLAR, S.L. Inventor/es: COELLO RODRÍGUEZ,Jorge.

Laboratorio para ensayos a módulos fotovoltaicos, que comprende un vehículo de transporte, cuya caja se configura como habitáculo para realizar los ensayos, la cual, es extensible con, una posición recogida para circular y una posición extendida que se alarga a la longitud necesaria, e incluye dos diafragmas , para evitar reflexiones de luz, tiene paredes opacas y mantiene la temperatura constante y controlada en su interior. La caja comprende dos tramos (2a, 2b) extensibles telescópicamente, uno mayor externo (2a) fijo y uno menor interno (2b) que encaja dentro del anterior. Su pared posterior cuenta con un cajón extraíble a través de una trampilla abatible, destinado a incorporar una lámpara flash.

Generador de fuente de luz artificial.

(07/10/2013) Un generador de fuente de luz artificial para simular la energía solar, que comprende: al menos un conjunto luminiscente , comprendiendo cada uno: una fuente de luz , para generar haces de luz; un espejo parabólico , que tiene un foco, donde la fuente de luz está dispuesta en el foco, demodo que los haces de luz generados por la fuente de luz son reflejados o emitidos en una direcciónparalela por el espejo parabólico; un asiento de soporte , para soportar la fuente de luz; una primera matriz de lentes , que tiene una pluralidad de primeras unidades de lentes , donde cada una de las primeras unidades de lentes tiene una primera distancia focal; yun segunda…

MÉTODOS DE MONITORIZACIÓN DE LA SALUD DE DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES.

(22/02/2013) Métodos de monitorización de la salud de dispositivos semiconductores. Están basados en un método para estimar cercanía de la finalización de la vida de un dispositivo que incluye un sensor de temperatura que comprende: a) realizar al comienzo del tiempo de vida del dispositivo un primer ensayo que comprende los siguientes pasos: a1) proporcionar una corriente con una amplitud constante I a dicho dispositivo durante un intervalo de tiempo tn; a2) obtener un parámetro P1 indicativo de la elevación de temperatura en dicho intervalo tn; b) realizar periódicamente el mismo ensayo y estimar la cercanía de la finalización de la vida del dispositivo cuando la diferencia o la relación entre el parámetro P obtenido en el último ensayo…

PROCEDIMIENTO Y SISTEMA DE VERIFICACIÓN DE UN CONJUNTO DE CÉLULAS SOLARES FOTOVOLTAICAS.

(24/10/2012) Procedimiento y sistema de verificación de un conjunto de células solares fotovoltaicas conectadas entre sí en serie mediante tabs . El sistema comprende: - medios de conexión eléctrica para conectar los tabs extremos del conjunto ; - fuentes de luz regulables para iluminar las células solares de forma independiente; - medios de control electrónicos para: - controlar la iluminación de las fuentes de luz ; - obtener, mediante inyección de corriente por los tabs extremos del conjunto , unas medidas eléctricas; - medios de procesamiento de datos para: - determinar, a partir de las medidas eléctricas, parámetros de elementos del conjunto ; - comparar los parámetros…

SISTEMA Y PROCEDIMIENTO PARA LA CARACTERIZACION ELECTRICA DE CENTRALES FOTOVOLTAICAS CONECTADAS A LA RED.

(13/06/2012) Sistema y procedimiento para la caracterización eléctrica de centrales fotovoltaicas conectadas a la red, que comprenden un generador fotovoltaico , un inversor , y un contador de energía comprendiendo las etapas estimar mediante un módulo fotovoltaico utilizado como sensor, la radiación solar y la temperatura de sus células fotovoltaicas; medir, mediante un vatímetro, la potencia eléctrica en un primer punto de medida definido por los terminales positivo y negativo del generador fotovoltaico y la potencia eléctrica en segundo punto de medida definido por los terminales de corriente alterna del inversor ; y…

SISTEMA PARA LA MEDICION DE LA CURVA TENSION-CORRIENTE EN MODULOS FOTOVOLTAICOS.

(08/03/2012). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE MALAGA. Inventor/es: SIDRACH DE CARDONA ORTIN,MARIANO, PILIOUGINE ROCHA,MICHEL.

Se describe un sistema para la medición de la curva tensión-corriente para un módulo fotovoltaico que comprende una fuente de alimentación conectada a dicho dispositivo fotovoltaico ; un medidor de corriente conectado en serie, entre la fuente de alimentación y el dispositivo fotovoltaico; un medidor de tensión conectado en paralelo al dispositivo fotovoltaico; un generador de onda cuadrada conectado al medidor de corriente y al medidor de tensión; y, un controlador en comunicación con la fuente de alimentación El sistema permite realizar un gran número de mediciones en un corto tiempo para evitar que el cambio de condiciones meteorológicas afecte la medición.

SISTEMA DE EVALUACION DE CELULAS SOLARES.

(01/10/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DEL PAIS VASCO EUSKAL HERRIJO UNIBERSITATEA. Inventor/es: MARTINEZ SANTOS,VICTOR, JIMENO CUESTA,JUAN CARLOS, GUTIERREZ SERRANO,RUBEN, RECART BARAANO,FEDERICO, BUENO MENDIETA,GORKA, HERNANDO BRIONGOS,FERNANDO, RODRIGUEZ CUESTA,MARIA VELIA, URIARTE DEL RIO,SUSANA, SAENZ NOVALES,MARIA JOSE, IKARAN SALEGI,CARMEN.

Sistema de evaluación de células solares. El sistema está compuesto por un sistema de iluminación continua, a base de lámparas halógenas, un sistema de control de temperatura de la célula, basado en intercambiadores de calor por efecto peltier, una estación de medida que incorpora una plataforma portacélulas y un sistema de extracción de corriente, un sistema de polarización, un sistema de adquisición de datos, un sistema de carga y descarga automática de las células solares, permitiendo establecer condiciones variables de iluminación que permiten realizar medidas de intensidad y tensión I-V de iluminación y oscuridad, así como medidas de cortocircuito a tensión de circuito abierto y de fotovoltaje en condiciones variables.

SISTEMA DE ALINEAMIENTO DE OBLEAS Y DE LECTURA DE MICROCODIGOS DE BARRAS Y DE MARCAS EN CHIPS CON LASER.

(16/03/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUP. INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO FANTOBA,MANUEL, PERELLO GARCIA,CARLES, ENRICH SARD,XAVIER, SANTANDER VALLEJO,JOAQUIN.

Sistema de alineamiento de obleas y de lectura de microcódigos de barras y de marcas en chips con láser. La invención es un sistema para leer marcas del tamaño de micras en obleas de semiconductor, adaptable a estaciones de prueba para medirlas. Estas pueden ser códigos de barras conteniendo información o marcas especiales para el alineamiento de los ejes de los chips en la oblea con respecto a los ejes de movimiento X e Y de la estación. Consiste en un sistema lector láser de los utilizados en reproductores de CD y permite resolución de micrómetros. El sistema de lectura está fijo y es la oblea, gracias a los motores de la estación de pruebas, quién se mueve. Las ventajas son su simplicidad, puede adaptarse a cualquier estación de pruebas existente y resulta muy barato. Además permite la lectura de microcódigos de barras, conteniendo información relevante de cada chip.

METODO Y PARATO PARA DETERMINAR INTERDEPENDENCIAS ENTRE DATOS RECOGIDOS PARA AUMENTAR LOS RENDIMIENTOS DE PRODUCCION DE SEMICONDUCTORES.

(16/09/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: LUCENT TECHNOLOGIES INC.. Inventor/es: ORTEGA,CARLOS, SLONSO MONTULL,JUAN IGNACIO, SOBRINO PATINO,ELISEO VENTURA.

Método y aparato para determinar interdependencias entre datos recogidos para aumentar los rendimientos de producción de semiconductores, que comprenden medios para formar una pluralidad de obleas comprendiendo cada una pluralidad de "dados" (cuerpos de circuitos integrados); recoger datos de características de funcionamiento de los circuitos correspondientes a una característica elegida de funcionamiento de los circuitos correspondientes a una característica elegida de funcionamiento de los circuitos de la pluralidad de "dados"; comparar los datos recogidos de las características de funcionamiento de los circuitos con un umbral para determinar fallos de "dados"; utilizar una red neural para determinar interdependencias entre los datos recogidos de características de funcionamiento de los circuitos para determinar fallos de "dados"; y ajustar por lo menos un proceso de fabricación de los semiconductores tomando como base las interdependencias para reducir fallos de "dados".

METODO Y APARAT0 PARA REALIZAR ANALISIS DE FALLOS MULTIVARIADOS PARA AUMENTAR LOS RENDIMIENTOS DE FABRICACION DE SEMICONDUCTORES.

(16/09/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: LUCENT TEHNOLOGIES INC. Inventor/es: ORTEGA,CARLOS, ALONSO MONTULL,JUAN IGNACIO.

Método y aparato para realizar análisis de fallos multivariados para aumentar los rendimiento de fabricación de semiconductores, que comprende medios para formar una pluralidad de obleas comprendiendo cada una, una pluralidad de "dados"; recoger datos de características eléctricas correspondientes a dispositivos en la pluralidad de "dados", recoger datos de características de funcionamiento de los circuitos de la pluralidad de "dados", correspondientes a una característica elegida de funcionamiento de los circuitos; comparar los datos recogidos de funcionamiento de los circuitos con un umbral para determinar fallos; realizar un análisis de fallos multivariados basado en los datos recogidos de las características eléctricas; y ajustar por lo menos un proceso de fabricación de los semiconductores basado en el análisis de fallos multivariados para reducir fallos.

DISPOSITIVO PARA PROBAR CELULAS SOLARES.

(01/06/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: DREI SOLAR AG. Inventor/es: SCHUTT, CARLA.

Dispositivo para probar células solares con una fuente de luz matricial definida para la irradiación de células solares , un dispositivo para el mando de la fuente de luz con un regulador de la intensidad de la corriente así como una unidad de valoración para la conexión eléctrica con una célula solar que se ha de probar y para el registro de la potencia eléctrica proporcionada por la célula solar irradiada y, dado el caso, para la comparación con la potencia de una célula de referencia calibrada, caracterizado porque la fuente de luz matricial está constituida por fuentes de luz de cuerpos sólidos, cuya emisión de radiación se realiza en el intervalo de sensibilidad básicamente monocromático y preferentemente espectral de las células solares que se han de medir.

DISPOSITIVO PARA PROYECTAR UN HAZ DE LUZ DEFINIDO SOBRE UNA SUPERFICIE FOTOSENSIBLE.

(01/05/2004) LA PRESENTE INVENCION SE REFIERE A UN DISPOSITIVO PARA DIRIGIR UN HAZ DE LUZ DEFINIDO SOBRE UN AREA FOTOSENSIBLE, PARTICULARMENTE PARA PROBAR EL RENDIMIENTO DE UN MODULO FOTOVOLTAICO. SEGUN LA INVENCION, EL DISPOSITIVO COMPRENDE, EN UNA ESTRUCTURA DE SOPORTE QUE PUEDE SER GIRADA ALREDEDOR DE UN EJE CENTRAL VERTICAL SEGUN LA POSICION AZIMUTAL EN CURSO DEL SOL: UNA CABINA RECEPTORA DEL MODULO A ENSAYAR CON EL AREA FOTOSENSIBLE EN POSICION HORIZONTAL, ESTANDO SITUADA LA CABINA EN LA PARTE INFERIOR DE LA ESTRUCTURA; UN PRIMER ESPEJO QUE PUEDE SER INCLINADO RESPECTO DEL EJE HORIZONTAL CON OBJETO DE ADAPTAR SU POSICION CONTINUAMENTE A LA POSICION DE ELEVACION DEL SOL, PARA OPTIMIZAR LA INCIDENCIA DE LA LUZ SOLAR SOBRE EL MISMO; Y UN SEGUNDO ESPEJO FIJADO A LA ESTRUCTURA VERTICALMENTE ENCIMA DEL AREA FOTOSENSIBLE…

APARATO PARA LOCALIZAR DEFECTOS DE FABRICACION EN UN ELEMENTO FOTOVOLTAICO.

(16/11/2003) Aparato para la localización de defectos de fabricación en un elemento fotovoltaico, el cual está formado sustancialmente mediante un substrato semiconductor en forma de oblea, sobre cuyas superficies principales opuestas se han dispuesto conductores eléctricos para el transporte de portadores de carga eléctrica, que comprende: al menos un primer electrodo en contacto eléctrico con una primera superficie principal de dicho substrato, y que es desplazable sobre el citado substrato, un segundo electrodo , que se dispone en contacto eléctrico con un conductor sobre la segunda superficie principal, y medios de ajuste para ajustar una polarización entre los conductores eléctricos de las superficies principales…

PROCESO PARA LA CARACTERIZACION DE UNA PLURALIDAD DE FOTOCELULAS Y PARA EL CONTROL AUTOMATICO DE UNA FOTOCELULA.

(16/11/2001) EL PROCEDIMIENTO DE LA INVENCION PERMITE, A TRAVES DE UN PROCEDIMIENTO ESPECIAL DE EXTRACCION DE DATOS, OBTENER EXPERIMENTALMENTE UNA RELACION MATEMATICA ENTRE ILED, T Y VOUT PARA TODAS LAS CELULAS FOTOELECTRICAS IGUALES PERTENECIENTES A UNA DETERMINADA FAMILIA TECNOLOGICA, GARANTIZANDO DE ESTE MODO, A TRAVES DEL USO DE UN PROCESO DE CONTROL APROPIADO, BASADO EN LA VARIACION DE LA CORRIENTE DE ALIMENTACION DEL LED, EL FUNCIONAMIENTO CORRECTO DE LAS CELULAS FOTOELECTRICAS. EN EFECTO, DICHO PROCEDIMIENTO PERMITE OPTIMIZAR, A TRAVES DE UN PROCESO INICIAL DE ADQUISICION, EL FUNCIONAMIENTO DE LA CELULA FOTOELECTRICA DE LAS CONDICIONES OPERATIVAS ESPECIFICAS A FIN DE DETERMINAR, DE MODO…

DISPOSICION PARA LA COMPROBACION DE GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES.

(01/08/1998). Solicitante/s: REITINGER, ERICH. Inventor/es: REITINGER, ERICH.

DISPOSICION PARA LA COMPROBACION DE GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES. UNA DISPOSICION PARA LA COMPROBACION DE GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES PRESENTA UNA MESA DE PRUEBA PARA EL ALOJAMIENTO DE LAS GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES A COMPROBAR, ASI COMO UN SOPORTE PARA EL ALOJAMIENTO DE APOYOS DE SONDAS O SIMILARES; LA MESA DE PRUEBA ESTA DISPUESTA DENTRO DE UN RECEPTACULO, QUE ESTA CONFIGURADO ABIERTO HACIA ARRIBA; EL RECEPTACULO ESTA CUBIERTO POR UNA PLACA, QUE CONTIENE UN ORIFICIO PARA EL PASO DE LAS ONDAS O SIMILARES Y DENTRO DEL RECEPTACULO HAY PREVISTOS LOS ELEMENTOS DE SALIDA QUE ESTAN CONECTADOS A TRAVES DE UNA ACOMETIDA A UNA FUENTE PARA AIRE, GAS, O SIMILAR.

ESTRUCTURA DE TEST PARA LA MEDIDA DEL DESALINEAMIENTO ENTRE NIVELES EN TECNOLOGIAS MICROELECTRONICAS, BASADA EN TRANSISTORES MOS CON PUERTA TRIANGULAR.

(01/04/1996). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO, M., CANE, C., PERELLO, C., LORA-TAMAYO, E.

LA ESTRUCTURA DE TEST PARA LA MEDIDA DEL DESALINEAMIENTO ENTRE NIVELES DE TECNOLOGIAS MICROELECTRICAS, BASADA EN TRANSISTORES MOS CON PUERTA TRIANGULAR, ES UN DISPOSITIVO MICROELECTRONICO COMPUESTO DE CUATRO TRANSISTORES MOS CON LA PUERTA TRIANGULAR, DISPUESTOS FORMANDO 90 ENTRE SI, CON LOS TERMINALES DE FUENTE UNIDOS, SENSIBLE AL DESALINEAMIENTO ENTRE LOS NIVELES DE PUERTA Y AREAS ACTIVAS EN TECNOLOGIAS AUTOALINEADAS. EL DESALINEAMIENTO SE OBTIENE A PARTIR DE LA MEDIDA DE LA CORRIENTE DE CANAL EN CADA UNO DE LOS TRANSISTORES, POLARIZANDO LOS MISMOS EN LA ZONA LINEAL O EN LA DE SATURACION.

ESTRUCTURA DE TEST PARA LA MEDIDA DE LA DIFUSION LATERAL EN TECNOLOGIAS CON DOPADO A PARTIR DE POLISICILIO, CON CORRECCION DEL DESALINEAMIENTO.

(16/12/1995). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO, M., CANE, C., PERELLO, M., ANGUITA, J.

LA ESTRUCTURA DE TEST PARA LA MEDIDA DE LA DIFUSION LATERAL EN TECNOLOGIAS CON DOPADO A PARTIR DE POLISICILIO, CON CORRECCION DEL DESALINEAMIENTO ES UN DISPOSITIVO COMPUESTO DE VARIOS TRANSISTORES MOS DE VACIAMIENTO, DE DISTINTAS DIMENSIONES, CON CONTACTOS ENTERRADOS DISPUESTOS ALTERNATIVAMENTE A DERECHA E IZQUIERDA. LA ESTRUCTURA DEBE CONTENER CUATRO TRANSISTORES COMO MINIMO A PESAR DE QUE LA IMPLEMENTACION PRACTICA QUE SE PRESENTA CONTIENE NUEVE. LA MEDIDA QUE SE REALIZA ES DE TIPO ELECTRICO MEDIANTE AJUSTES LINEALES DE LA INVERSA DE LA CORRIENTE DE DRENADOR RESPECTO A LAS LONGITUDES DE LOS TRANSISTORES. SU APLICACION CONSISTE EN LA OBTENCION AUTOMATICA MEDIANTE MEDIDAS ELECTRICAS DE LA LONGITUD DE DIFUSION LATERAL EN PROCESOS DE AUTODOPADO A PARTIR DE MATERIAL POLICRISTALINO.

METODO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINACION ACELERADA DEL ENVEJECIMIENTO DE UNO O MAS ELEMENTOS CON UN PARAMETRO DE ENVEJECIMIENTO ELECTROMAGNETICO.

(01/09/1995). Solicitante/s: INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW LIMBURGS UNIVERSITAIR CENTRUM. Inventor/es: STALS, LAMBERT MATHIAS MARIA, ROGGEN, JEAN JOSEPH MARIE, DE SCHEPPER, LUC IRENA, DE CEUNINCK, WARD AIME STEFAN.

UN METODO PARA DETERMINAR EL CAMBIO DE IMPEDANCIA DE UN PARAMETRO DE ENVEJECIMIENTO ELECTROMAGNETICO SOBRE UNO O MAS ELEMENTOS QUE TIENEN DICHO PARAMETRO, EN EL QUE EL ELEMENTO SE COLOCA EN UN HORNO A UNA TEMPERATURA PREDETERMINADA Y EN EL QUE SE REALIZA UNA MEDIDA DE LA RESISTENCIA A ESTA TEMPERATURA.

PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACION DE LA POSICION DE UNA TRANSICION-PN.

(01/02/1995) PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACION DE LA POSICION DE UNA TRANSICION PN. LA INVENCION CONCIERNE A UN PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACION DE LA POSICION DE UNA TRANSICION PN O DE LA PROFUNDIDAD DE PENETRACION DEL ELECTRODO DIFUNDIDO EN COMPONENTES SEMICONDUCTORES PRODUCIDOS POR TECNOLOGIA PLANAR. DE ACUERDO CON LA INVENCION SE EXPONE TAMBIEN UN PATRON DE PRUEBA, QUE CONSTA DE N PARES DE VENTANAS, QUE SU SEPARACION AUMENTA DE PAR EN PAR. EN EL PROCESO DE DIFUSION SE SOLAPAN LAS CUBETAS QUE SE FORMAN EN LOS PARES DE VENTANAS QUE ESTAN MUY JUNTOS, ESTAN EN CONTACTO EN UN PAR DE VENTANAS (N0) Y SE SEPARAN UNA DE OTRA EN PARES…

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