Micrótomo con sensor de orientación de superficie para detectar la orientación de una superficie de una muestra.
Un dispositivo de seccionamiento de muestras que comprende:
un mecanismo de corte (112) que se puede accionar para cortar secciones a partir de una muestra (108) a lo largo de un plano de corte (124);
un portamuestras (107) que se puede accionar para contener la muestra (108);
un sensor de orientación de superficie (114) que se puede accionar para detectar una orientación angular de una superficie de la muestra (108) contenida en el portamuestras (107); y
un sistema de accionamiento (102) que se puede accionar para impulsar el movimiento entre (i) la muestra (108) contenida en el portamuestras (107) y el mecanismo de corte (112) y (ii) la muestra (108) contenida en el portamuestras (107) y el sensor de orientación de superficie (114), en el que el movimiento entre la muestra (108) contenida en el portamuestras (107) y el sensor de orientación de superficie (114) comprende mover el portamuestras (107) hacia el sensor de orientación de superficie (114) de tal modo que la superficie de la muestra (108) entra en contacto con una superficie del sensor de orientación de superficie (114) y el sensor de orientación de superficie (114) detecta la orientación angular de la superficie de la muestra (108) con respecto al plano de corte (124),
caracterizado por que
el sensor de orientación de superficie (114) se puede accionar para detectar la orientación angular de la superficie de la muestra (108) contenida en el portamuestras (107) basándose en una rotación de la superficie del sensor de orientación de superficie (114) en torno a un primer eje (232) y un segundo eje (233) perpendicular al primer eje (232), siendo el primer eje (232) y el segundo eje (233) sustancialmente paralelos al plano de corte (124); y por que el sensor de orientación de superficie (114) detecta la orientación angular de la superficie de la muestra (108) basándose en el grado de rotación de la superficie del sensor de orientación de superficie (114) causado por la entrada en contacto de la superficie de la muestra (108) con la superficie del sensor de orientación de superficie (114).
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E12159609.
Solicitante: SAKURA FINETEK U.S.A., INC..
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 1750 WEST 214TH STREET TORRANCE, CA 90501 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: BUI,XUAN S, YANG,HWAI-JYH MICHAEL.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N1/06 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › que proporcionan una fina rodaja, p. ej. microtomo.
PDF original: ES-2642668_T3.pdf
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