Método para calibrar el sistema de TC de energía dual y el método de reconstrucción de imágenes.
Un metodo de reconstruccion de imagen de tomografia computarizada de descomposicion de material de base de energia dual,
el metodo comprende las etapas de:
escanear un objeto bajo inspeccion con rayos de doble energia para adquirir valores de proyeccion de doble energia; calculo de los valores de proyeccion de los coeficientes de los materiales de base (B1, B2) que corresponde a dichos valores de proyeccion de doble energia basados en una tabla de busqueda pre-creada que indica la correspondencia entre diferentes combinaciones de grosor y valores de proyeccion de los coeficientes de los materiales de base (B1, B2);
reconstruccion de una imagen de base de distribucion de coeficiente de material (b1, b2), basado en dichos valores de proyeccion de los coeficientes de los materiales de base (b1, b2), donde dicha tabla de busqueda pre-creada se crea mediante la seleccion de al menos dos materiales de base, detectando rayos de penetracion de los rayos de doble energia que penetran dichos materiales de base bajo diferentes combinaciones de espesor (d1, d2) para adquirir valores de proyeccion (p1, p2); y
la creacion de la tabla de busqueda pre-creada en una forma de correspondencia entre dichos diferentes combinaciones de espesor (d1, d2) y dichos valores de proyeccion (p1, p2), por lo que cuando dichos valores de proyeccion (p1, p2) son iguales a los valores de proyeccion de doble energia, una combinacion correspondiente de espesor (d1, d2) es igual a los valores de proyeccion de los coeficientes de los materiales de base (B1, B2) en los que dichos rayos de doble energia comprenden de los rayos de baja energia y de alta energia y dichos rayos de baja energia y alta energia son rayos X.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E08250858.
Solicitante: TSINGHUA UNIVERSITY.
Nacionalidad solicitante: China.
Dirección: Haidian District Beijing 100084 CHINA.
Inventor/es: ZHANG, LI, CHEN,Zhiqiang, LI,Yuanjing, LIU,Yinong, ZHAO,ZIRAN, XING,YUXIANG, ZHANG,GUOWEI, CHENG,JIANPING, XIAO,YONGSHUN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01T1/164 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › Centelleografía.
- G01T7/00 G01T […] › Detalles de los instrumentos de medida de las radiaciones.
PDF original: ES-2626227_T3.pdf
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